اعلام جامعة بابل | مناقشة رسالة ماجستير في هندسة مواد\ بابل

مناقشة رسالة ماجستير في هندسة مواد\ بابل

نشر بواسطة : نورا كاظم بيرماني

تاريخ الخبر : 23/6/2025

عدد المشاهدات : 93

مناقشة رسالة ماجستير في هندسة مواد\ بابل
ناقش قسم هندسة السيراميك ومواد البناء رسالة الماجستير للباحث الطالب ( كرار عبد الامير علي ) عن رسالته الموسومة:
( استخدام طريقة السول –جل لتحضير مواد متقدمة ذات بنية نانوية من اساس اوكسيد النيكل -سيليكا)
The Sol-Gel Route to Advanced NiO–Silica-Based Nanostructured Materials
أشراف كل من:
الأستاذ الدكتورة شيماء جابر كريم
الأستاذ المساعد الدكتور قتيبة حسين المرزوكي
ترأس لجنة المناقشة: الأستاذ الدكتور عماد علي دشر
تناولت الدراسة:
تصنيع أغشية سميكة من SiO?–Nix-1CuxO باستخدام طريقة السول-جل. ثم تم ترسيب الأغشية على مساحات سطحية واسعة بتغطية موحدة باستخدام تقنية الطلاء الدوراني. تم استخدام رباعي إيثيل أورثوسيليكات مائي (TEOS) كمصدر للسيليكا، ورباعي هيدرات كلوريد النيكل (II) المائي كمصدر لأكسيد النيكل، وكلوريد النحاس (II) المائي ثنائي الهيدرات كمصدر لأكسيد النحاس. تم تحضير العينات من خليط SiO?-NiO-CuO بنسب مولية 60SiO2-40NiO، و70SiO2-30NiO، و30SiO2-70NiO، و40SiO?-60NiO، مع إضافة نسب مختلفة من التشويب بالنحاس (CuO) (1-X)، حيث كانت قيم التشويب بالنحاس (0.01 ,0.015 و0.02)? بالوزن، ثم تم ترسيبها على ركيزة زجاجية وتجفيفها عند 60 درجة مئوية، تليها عملية التكليس عند درجات حرارة متفاوتة من 500 درجة مئوية و700 درجة مئوية و 900 درجة مئوية.
دُرست بنية وخصائص طور المسحوق باستخدام حيود الأشعة السينية (XRD)لتحديد خصائصه الشبكية وشكله البلوري. أظهرت النتائج ظهور طور بلوري مكعب لعناصر SiO? وNiO وCuO، وتحسنًا في البنية البلورية، اتسم بانخفاض عدد القمم واختفاء بعضها، كما هو موضح في شكل حيود الأشعة السينية لنسبة 70S-30N. لوحظ انخفاض في حجم البلورة مع زيادة درجة حرارة التكليس وتركيز التشويب، بالاضافه الى انخفاض حجم الحبيبات مع زيادة نسبة التشويب. لدراسة مورفولوجيا السطح والتوزيع الهيكلي، استُخدمت تقنيات المجهر الإلكتروني الماسح (SEM) والتصوير المجهري الإلكتروني المرنFESEM)) والتصوير المجهري الإلكتروني التفريغيEDS).) كشف تحليل المجهر الإلكتروني الماسح SEM)) عن زيادة في سمك الغشاء من 0.6 ميكرومتر إلى 0.8 ميكرومتر بعد عملية التشويب. علاوة على ذلك، أكد تحليل (EDS) وجود عناصر Si وNi وCu وO، بما يتوافق مع التركيب المتوقع، مما يدل على نجاح تكوين أغشية رقيقة عالية النقاء.
استُخدمت قياسات النفاذية والامتصاص في النطاق الطيفي 250-600 نانومتر لتقييم الخصائص البصرية للأغشية. أظهر الغشاء الرقيق غير المُشَبَّب فجوة نطاق مباشرة قدرها 4.7 إلكترون فولت لنسبة 70S-30N. بعد التشويب، انزاحت فجوة النطاق إلى انتقال غير مباشر بقيمة مخفضة قدرها 3.65 إلكترون فولت، مما يشير إلى تعديل في البنية الإلكترونية نتيجةً لتأثيرات التشويب.
جنان العبيدي
تصوير احمد حسين